正交探针是一种用于测量材料表面电学性质的工具,通常由两个或更多个相互垂直的针状电极组成。
这些电极通常由金属制成,例如金或银,并且它们的尖端被精细地加工以便于接触样品。当针状电极接触样品表面时,可以通过测量电导率、电阻率、电容率和电子迁移率等参数来推断样品的电学性质。正交探针之所以被称为“正交”,是因为它们的电极通常相互垂直放置,形成直角。这种设计使得探针可以同时测量两个方向的电学性质,从而更全面地了解样品的电学性质。正交探针通常与显微镜配合使用,以便在观察样品表面的同时进行电学测量。总之,正交探针是一种重要的实验工具,用于研究材料表面的电学性质。通过使用正交探针,科学家可以更深入地了解材料的性质和行为,从而为新材料的开发和应用提供有价值的信息。